最新的EN 61326-1：2013版本的標準取代EN 61326-1：2006，并于2015年8月14日成為強制性的，EN
61326-1：2013相當于國際標準IEC 61326-1：2012.請進一步閱讀EN 61326-1的重大更改摘要。
EN 61326-1：2013性能標準：
性能標準A和B中定義的第一部分在EN 61326-1中保持不變.然而，2013年版本增加了一個與“可允許的性能損失”相關(guān)的部分。如果制造商沒有確定最低性能水平或允許的性能損失，用戶可以從設備或產(chǎn)品文檔的合理期望中推斷出這些損失。換句話說，一個產(chǎn)品的功能仍然可以通過2006年版本中指定的用戶干預來恢復--這個版本只是有額外的語句來澄清。
EN 61326-1：2013排放量：
2006年版本引用CISPR 11：2003，2013年版本引用CISPR 11：2009+A1：2010。對CISPR 11：2009的第一項修正規(guī)定了“小型設備”3米測試距離的替代輻射排放限制，其中“小型設備”被定義為適合于地面以上1.5米、直徑1.2米的圓柱形測試體積的設備。
基本環(huán)境中的免疫
靜電放電試驗水平從61636~2006年的±4kV接觸放電和±4kV空氣放電提高到61326~2013年的±4kV接觸放電和±8kV空氣放電。這一變化是為了使標準更接近于非實驗室環(huán)境。
對于磁敏設備，en 61326-1：2013增加了對工頻磁抗擾度的新要求(iec 61000-4-8)，測試級別為3A/m。受影響的設備類型包括霍爾效應傳感器和磁繼電器。
工業(yè)環(huán)境豁免
現(xiàn)在，2013年版本中的每一個項目都有明確2006年標準的業(yè)績標準。沒有進行任何其他修改，使本節(jié)基本上保持不變。
受控電磁環(huán)境的免疫力
EN 61326：2006有一個名為“測量I/O”的端口類別，允許制造商定義測試級別(即沒有強制測試級別)，并在產(chǎn)品文檔中說明EUT測試的級別。在EN 61326：2013中，此端口類別已被刪除。因此，以前屬于“測量I/O”類別的端口現(xiàn)在屬于其余的“I/O信號/控制”類別，即所需的測試級別由標準確定，而不是由制造商自行決定。
便攜式測試設備的抗干擾性
對于磁敏設備，en 61326-1：2013增加了一項新的要求，要求電源頻率抗磁能力(iec 61000-4-8)在3A/m的測試水平上。它還允許crt顯示干擾大于1A/m。
這如何影響現(xiàn)有和新的測試程序
我們一直在測試這一最新標準，所有報告都將發(fā)布給EN 61326-1：2013版本的標準。
希望將產(chǎn)品更新到2013年版本的客戶可以根據(jù)需要進行適用的測試。一旦滿足了額外的測試要求，報告就可以重新發(fā)布，以反映2013年版本。
盡管在EN 61326-2：2013中增加了新的磁抗擾性要求，但在大多數(shù)情況下，磁抗擾性測試仍然不需要，因為只需要對含有固有受磁場影響的元件的設備進行測試。
EN 61326-2006年對2013年
EN 61326-1：2013年包括了一些制造商不應忽視的關(guān)鍵變化。它還澄清了2006年版本中提到的許多標準。制造商目前應該對EN 61326-1：2013版本的標準進行測試。使用2006年的指南現(xiàn)在被認為是不符合規(guī)定的，產(chǎn)品必須遵守EN 61326-1才能運往歐洲。
為進一步澄清這些變化或要求按照EN 61326-1：2013標準進行測試，在線聯(lián)系我們...我們的團隊將與您聯(lián)系，討論您的產(chǎn)品所需的測試，以及我們?nèi)绾翁峁┮粋€全面的解決方案。